Observation of ultrafast amorphization dynamics in GeCu2Te3 thin films using echelon-based single-shot transient absorbance spectroscopy

1 M. Wuttig and N. Yamada, Nat. Mater. 6, 824 (2007).

2 S. Raoux, G. W. Burr, M. J. Breitwisch, C. T. Rettner, Y. C. Chen, R. M. Shelby, M. Salinga, D. Krebs, S. H. Chen, H. L. Lung, and C. H. Lam, IBM J. Res. Dev. 52, 465 (2008).

3 H. S. P. Wong, S. Raoux, S. Kim, J. Liang, J. P. Reifenberg, B. Rajendran, M. Asheghi, and K. E. Goodson, Proc. IEEE 98, 2201 (2010).

4 G. W. Burr, M. J. Breitwisch, M. Franceschini, D. Garetto, K. Gopalakrishnan, B. Jackson, B. Kurdi, C. Lam, L. A. Lastras, A. Padilla, B. Rajendran, S. Raoux, and R. S. Shenoy, J. Vac. Sci. Technol. B 28, 223 (2010).

5 M. H. R. Lankhorst, B. W. S. M. M. Ketelaars, and R. A. M. Wolters, Nat. Mater. 4, 347 (2005).

6 K. A. Cooley, H. M. Aldosari, K. Yang, and S. E. Mohney, J. Vac. Sci. Technol. A 38, 050805 (2020).

7 S. Lai and T. Lowrey, in International Electron Devices Meeting, Tech Digest 36.5.1 (2001).

8 N. Yamada, E. Ohno, K. Nishiuchi, N. Akahira, and M. Takao, J. Appl. Phys. 69, 2849 (1991).

9 Y. Fukuyama, N. Yasuda, J. Kim, H. Murayama, Y. Tanaka, S. Kimura, K. Kato, S. Kohara, Y. Moritomo, T. Matsunaga, R. Kojima, N. Yamada, H. Tanaka, T. Ohshima, and M. Takata, Appl. Phys. Express 1, 045001 (2008).

10M. K. Santala, B. W. Reed, T. Topuria, S. Raoux, S. Meister, Y. Cui, T. LaGrange, G. H. Campbell, and N. D. Browning, J. Appl. Phys. 111, 024309 (2012).

11M. Hase, P. Fons, K. Mitrofanov, A. V. Kolobov, and J. Tominaga, Nat. Commun. 6, 8367 (2015).

12M. Konishi, H. Santo, Y. Hongo, K. Tajima, M. Hosoi, and T. Saiki, Appl. Opt. 49, 3470 (2010).

13J. Takeda, W. Oba, Y. Minami, T. Saiki, and I. Katayama, Appl. Phys. Lett. 104, 261903 (2014).

14M. Hada, W. Oba, M. Kuwahara, I. Katayama, T. Saiki, J. Takeda, and K. G. Nakamura, Sci. Rep. 5, 13530 (2015).

15Z. Chai, X. Hu, F. Wang, X. Niu, J. Xie, and Q. Gong, Adv. Opt. Mater. 5, 1600665 (2017).

16G. E. Delgado, A. J. Mora, M. Pirela, A. Velasquez-Velasquez, M. Villarreal, and B. J. Fernandez, Phys. Status Solidi (A) 201, 2900 (2004).

17T. Kamada, Y. Sutou, M. Sumiya, Y. Saito, and J. Koike, Thin Solid Films 520, 4389 (2012).

18Y. Saito, Y. Sutou, and J. Koike, J. Phys. Chem. C 118, 26973 (2014).

19Y. Saito, Y. Sutou, and J. Koike, Appl. Phys. Lett. 102, 051910 (2013).

20Y. Saito, Y. Sutou, P. Fons, S. Shindo, X. Kozina, J. M. Skelton, A. V. Kolobov, and K. Kobayashi, Chem. Mater. 29, 7440 (2017).

21S. Shindo, Y. Shuang, S. Hatayama, Y. Saito, P. Fons, A. V. Kolobov, K. Kobayashi, and Y. Sutou, J. Appl. Phys. 128, 165105 (2020).

22K. Momma and F. Izumi, J. Appl. Crystallogr. 44, 1272 (2011).

23N. K. Chen, X. B. Li, X. R. Wang, M. J. Xia, S. Y. Xie, H. Wang, Z. Song, S. Zhang, and H. B. Sun, Acta Mater. 90, 88 (2015).

24P. Jovari, Y. Sutou, I. Kaban, Y. Saito, and J. Koike, Scr. Mater. 68, 122 (2013).

25J. R. Stellhorn, B. Paulus, S. Hosokawa, W.-C. Pilgrim, N. Boudet, N. Blanc, H. Ikemoto, S. Kohara, and Y. Sutou, Phys. Rev. B 101, 214110 (2020).

26R. Detemple, D. Wamwangi, M. Wuttig, and G. Bihlmayer, Appl. Phys. Lett. 83, 2572 (2003).

27M. Chen, K. A. Rubin, and R. W. Barton, Appl. Phys. Lett. 49, 502 (1986).

28J. A. Kalb, F. Spaepen, and M. Wuttig, J. Appl. Phys. 98, 054910 (2005).

29Y. Zhong, Y. Luo, X. Li, and J. Cui, Sci. Rep. 9, 18879 (2019).

30I. Katayama, K. Inoue, Y. Arashida, Y. Wu, H. Yang, T. Inoue, S. Chiashi, S. Maruyama, T. Nagao, M. Kitajima, and J. Takeda, Phys. Rev. B 101, 245408 (2020).

31H. Sakaibara, Y. Ikegaya, I. Katayama, and J. Takeda, Opt. Lett. 37, 1118 (2012). Applied Physics Letters ARTICLE scitation.org/journal/apl