Elastic constant of dielectric nano-thin films using three-layer resonance studied by picosecond ultrasonics

1) M. Kadota, T. Ogami, K. Yamamoto, Y. Negoro, and H. Tochishita, Jpn.　J. Appl. Phys. 48, 07GG08 (2009).

2) M. Kadota and T. Ogami, Jpn. J. Appl. Phys. 50, 07HD11 (2011).

3) R. Goto, J. Fujiwara, H. Nakamura, and K. Hashimoto, Jpn. J. Appl. Phys. 57, 07LD20 (2018).

4) M. Kadota, Y. Ishii, and S. Tanaka, Jpn. J. Appl. Phys. 59, 07HD11 (2020).

5) M. Ueda, M. Hara, S. Taniguchi, T. Yokoyama, T. Nishihara, K. Hashimoto, and Y. Satoh, Jpn. J. Appl. Phys. 47, 4007 (2008).

6) F. Thalmayr, K. Hashimoto, M. Ueda, T. Omori, and M. Yamaguchi, Jpn. J. Appl. Phys. 49, 07HD11 (2010).

7) M. Hara, T. Yokoyama, T. Sakashita, S. Taniguchi, M. Iwaki, T. Nishihara, M. Ueda, and Y. Satoh, Jpn. J. Appl. Phys. 49, 07HD13 (2010).

8) H. Kanbara, H. Kobayashi, and K. Nakamura, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 3049 (2000).

9) T. Kimura, K. Daimon, T. Ogami, and M. Kadota, Jpn. J. Appl. Phys. 52, 07HD03 (2013).

10) T. Kimura, Y. Kishimoto, M. Omura, and K. Hashimoto, Jpn. J. Appl. Phys. 57, 07LD15 (2018).

11) K. Matsumoto, M. Kadota , and S. Tanaka, Jpn. J. Appl. Phys. 59, 036506 (2020).

12) H. Fukuda, A. Nagakubo, and H. Ogi, Proc. 41st Symp. Ultrasonic Electronics 41, 3Pa1-3 (2020).

13) C. Thomsen, J. Strait, Z. Vardeny, H. J. Maris, J. Tauc, and J. J. Hauser, Phys. Rev. Lett. 53, 989 (1984).

14) C. Thomsen, H. T. Grahn, H. J. Maris, and J. Tauc, Phys. Rev. B 34, 4129 (1986).

15) H. Ogi, M. Fujii, N. Nakamura, T. Yasui, and M. Hirao, Phys. Rev. Lett. 98, 195503 (2007).

16) N. Nakamura, H. Ogi, T. Yasui, M. Fujii, and M. Hirao, Phys. Rev. Lett.　99, 035502 (2007).

17) A. Nagakubo, H. T. Lee, H. Ogi, T. Moriyama, and T. Ono, Appl. Phys. Lett. 116, 021901 (2020).

18) H. Nakahata, H. Kitabayashi, T. Uemura, A. Hachigo, K. Higaki, S. Fujii, Y. Seki, K. Yoshida, and S. Shikata, Jpn. J. Appl. Phys. 37, 2918 (1998).

19) K. Yamanouchi and T. Ishii, Jpn. J. Appl. Phys. 41, 3480 (2002).

20) H. J. McSkimin, J. Appl. Phys. 24, 988 (1953).

21) O. L. Anderson and H. E. Bömmel, J. Am. Ceram. Soc. 38, 125 (1955).

22) C. D. Corso, A. Dickherber, and W. D. Hunt, J. Appl. Phys. 101, 054514 (2007).

23) I. Koné, F. Domingue, A. Reinhardt, H. Jacquinot, M. Borel, M. Gorisse, G. Parat, F. Casset, D. Pellissier-Tanon, J. F. Carpentier, L. Buchaillot, and B. Dubus, Appl. Phys. Lett. 96, 223504 (2010).

24) T. C. Zhu, H. J. Maris, and J. Tauc, Phys. Rev. B 44, 4281 (1991).

25) H. Ogi, T. Shagawa, N. Nakamura, M. Hirao, H. Odaka, and N. Kihara, Phys. Rev. B 78, 134204 (2008).

26) A. Nagakubo, H. Ogi, H. Ishida, M. Hirao, T. Yokoyama, and T. Nishihara, J. Appl. Phys. 118, 014307 (2015).

27) A. Nagakubo, S. Tsuboi, Y. Kabe, S. Matsuda, A. Koreeda, and Y. Fujii, Appl. Phys. Lett. 114, 251905 (2019).

28) A. Nagakubo, M. Arita, T. Yokoyama, S. Matsuda, M. Ueda, H. Ogi, and M. Hirao, Jpn. J. Appl. Phys. 54, 07HD01 (2015).

29) A. Devos and R. Côte, Phys. Rev. B 70, 125208 (2004).

30) A. Nagakubo, H. Ogi, H. Sumiya, K. Kusakabe, and M. Hirao, Appl. Phys. Lett. 102, 241909 (2013).

31) H. Ogi, Y. Fukunishi, T. Omori, K. Hatanaka, M. Hirao, M. Nishiyama, and, Anal. Chem. 80, 5494 (2008).

32) K. Uehara, H. Ogi, and M. Hirao, Appl. Phys. Express 7, 025201 (2014).

33) A. Nagakubo, K. Adachi, T. Nishihara, and H. Ogi, Appl. Phys. Express　13, 016504 (2020).

34) R. E. Macfarlane, J. A. Rayne, and C. K. Jones, Phys. Lett. 18, 91 (1965).

35) N. Uchida and S. Saito, J. Acoust. Soc. Am. 51, 1602 (1972).

36) N. Nakamura, H. Ogi, T. Shagawa, and M. Hirao, Appl. Phys. Lett. 92, 141901 (2008).

37) N. Nakamura, Y. Nakamichi, H. Ogi, M. Hirao, and M. Nishiyama, Jpn.　J. Appl. Phys. 52, 07HB05 (2013).