1 H. C. Lee and J. Gurland, Mater. Sci. Technol. 33, 125 (1978).
2 Z. Z. Fang, X. Wang, T. Ryu, K. S. Hwang, and H. Y. Sohn, Int. J. Refract. Met. Hard Mater. 27, 288 (2009).
3 M. Rieth, S. L. Dudarev, S. M. Gonzalez de Vicente, J. Aktaa, T. Ahlgren, S. Antusch, D. E. J. Armstrong, M. Balden, N. Baluc, M. F. Barthe et al., J. Nucl. Mater. 442, S173 (2013).
4 S. J. Zinkle, J. P. Blanchard, R. W. Callis, C. E. Kessel, R. J. Kurtz, P. J. Lee, K. A. McCarthy, N. B. Morley, F. Najmabadi, R. E. Nygren, G. R. Tynan, D. G. Whyte, R. S. Willms, and B. D. Wirth, J. Nucl. Mater. 89, 1579 (2014).
5 G. R. Tynan, R. P. Doerner, J. Barton, R. Chen, S. Cui, M. Simmonds, Y. Wang, J. S. Weauver, N. Mara, and S. Pathak, Nucl. Mater. Energy 12, 164 (2017).
6 L. C. A. Morimitsu, J. D. L. Roche, A. Ruden, D. Escobar, and E. R. Parra, Chem. Phys. Lett. 40, 6383 (2014).
7 H. L. Sun, Z. X. Song, D. G. Guo, F. Ma, and K. W. Xu, J. Mater. Sci. Technol. 26, 87 (2010).
8 M. Yim, D. H. Kim, D. Chai, and G. Yoon, J. Vac. Sci. Technol., A 22, 465 (2004).
9 S. Jose, A. B. M. Jansman, R. J. E. Hueting, and J. Schmitz, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 57, 2753 (2010).
10 T. Salditt, D. Lott, T. H. Metzger, J. Peisl, G. Vignaud, P. Høghøj, O. Sch€arpf, P. Hinze, and R. Lauer, Phys. Rev. B 54, 5860 (1996).
11 M. H. Modi, G. S. Lodha, S. R. Naik, A. K. Srivastava, and R. V. Nandedkar, Thin Solid Films 503, 115 (2006).
12 P. N. Rao, S. K. Rai, M. Nayak, and G. S. Lodha, Appl. Opt. 52, 6126 (2013).
13 C. F. Pai, M. H. Nguyen, C. Belvin, L. H. V. Le~ao, D. C. Ralph, and R. A. Buhrman, Appl. Phys. Lett. 104, 082407 (2014).
14 G. H€agg and N. Sch€onberg, Acta Crystallogr. 7, 351 (1954).
15 G. Mannella and J. O. Hougen, J. Phys. Chem. 60, 1148 (1956).
16 W. R. Morcom, W. L. Worrell, H. G. Sell, and H. I. Kaplan, Metall. Trans. 5, 155 (1974).
17 I. A. Weerasekera, S. I. Shah, D. V. Baxter, and K. M. Unruh, Appl. Phys. Lett. 64, 3231 (1994).
18 D. Choi, B. Wang, S. Chung, X. Liu, A. Darbal, A. Wise, N. T. Nuhfer, K. Barmak, A. P. Warren, K. R. Coffey, and M. F. Toney, J. Vac. Sci. Technol., A 29, 051512 (2011).
19 S. M. Rossnagel, I. C. Noyan, and C. Cabral, J. Vac. Sci. Technol., B 20, 2047 (2002).
20 P. Petroff, T. T. Sheng, A. K. Sinha, G. A. Rozgonyi, and F. B. Alexander, J. Appl. Phys. 44, 2545 (1973).
21 Y. G. Shen and Y. W. Mai, J. Mater. Sci. 36, 93 (2001).
22 Y. G. Shen, Y. W. Mai, C. Zhang, D. R. McKenzie, W. D. McFall, and E. McBride, J. Appl. Phys. 87, 177 (2000).
23 Y. G. Shen and Y. W. Mai, Mater. Sci. Eng. A 284, 176 (2000).
24 W. L. Bond, A. S. Cooper, K. Andres, G. W. Hull, T. H. Geballe, and B. T. Matthias, Phys. Rev. Lett. 15, 260 (1965).
25 S. Basavaiah and S. R. Pollack, J. Appl. Phys. 39, 5548 (1968).
26 C. F. Pai, L. Liu, Y. Li, H. W. Tseng, D. C. Ralph, and R. A. Buhrman, Appl. Phys. Lett. 101, 122404 (2012).
27 Q. Hao, W. Chen, and G. Xiao, Appl. Phys. Lett. 106, 182403 (2015).
28 Q. Hao and G. Xiao, Phys. Rev. Appl. 3, 034009 (2015).
29 K. U. Demasius, T. Phung, W. Zhang, B. P. Hughes, S. H. Yang, A. Kellock, W. Han, A. Pushp, and S. S. P. Parkin, Nat. Commun. 7, 10644 (2016).
30 M. F. Slim, A. Alhussein, E. Zgheib, and M. Franc¸ois, Acta Mater. 175, 348 (2019).
31 O. D. Sherby and P. M. Burke, Prog. Mater. Sci. 13, 323 (1968).
32 D. M. Teter, MRS Bull. 23, 22 (1998).
33 A. Nagakubo, H. Ogi, H. Sumiya, and M. Hirao, Appl. Phys. Lett. 105, 081906 (2014).
34 H. J. Frost and M. F. Ashby, Deformation-Mechanism Maps: The Plasticity and Creep of Metals and Ceramics (Pergamon Press, Oxford, 1982), p. 18.
35 M. J. Okeefe, J. T. Grant, and J. S. Solomon, J. Electron. Mater. 24, 961 (1995).
36 F. T. N. Vu€llers and R. Spolenak, Thin Solid Films 577, 26 (2015).
37 T. J. Vink, W. Walrave, J. L. C. Daams, A. G. Dirks, M. A. J. Somers, and K. J. A. van den Aker, J. Appl. Phys. 74, 988 (1993).
38 K. Salamon, O. Milat, N. Radic´, P. Dubcˇek, M. Jercˇinovic´, and S. Bernstorff, J. Phys. D 46, 095304 (2013).
39 I. Djerdj, A. M. Tonejc, A. Tonejc, and N. Radic´, Vacuum 80, 151 (2005).
40 J. Liu and K. Barmak, Acta Mater. 104, 223 (2016).
41 I. C. Noyan, T. M. Shaw, and C. C. Goldsmith, J. Appl. Phys. 82, 4300 (1997).
42 J. S. Lee, J. Cho, and C. Y. You, J. Vac. Sci. Technol., A 34, 021502 (2016).
43 D. Choi, Microelectron. Eng. 183, 19 (2017).
44 W. Parrish, Acta Crystallogr. 13, 838–184 (1960).
45 L. G. Parratt, Phys. Rev. 95, 359 (1954).
46 C. Thomsen, J. Strait, Z. Vardeny, H. J. Maris, J. Tauc, and J. J. Hauser, Phys. Rev. Lett. 53, 989 (1984).
47 C. Thomsen, H. T. Grahn, H. J. Maris, and J. Tauc, Phys. Rev. B 34, 4129 (1986).
48 A. Nagakubo, A. Yamamoto, K. Tanigaki, H. Ogi, N. Nakamura, and M. Hirao, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 51, 07GA09 (2012).
49 H. Ogi, M. Fujii, N. Nakamura, T. Shagawa, and M. Hirao, Appl. Phys. Lett. 90, 191906 (2007).
50 H. Ogi, M. Fujii, N. Nakamura, T. Yasui, and M. Hirao, Phys. Rev. Lett. 98, 195503 (2007).
51 F. H. Featherston and J. R. Neighbour, Phys. Rev. 130, 1324 (1963).
52 N. Nakamura, H. Ogi, T. Shagawa, and M. Hirao, Appl. Phys. Lett. 92, 141901 (2008).
53 H. Ogi, A. Yamamoto, K. Kondou, K. Nakano, K. Morita, N. Nakamura, T. Ono, and M. Hirao, Phys. Rev. B 82, 155436 (2010).
54 N. Nakamura, Y. Nakamichi, H. Ogi, M. Hirao, and M. Nishiyama, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 52, 07HB05 (2013).
55 G. Kresse and J. Hafner, Phys. Rev. B 47, 558 (1993).
56 P. E. Bl€ochl, Phys. Rev. B 50, 17953 (1994).
57 G. Kresse and D. Joubert, Phys. Rev. B 59, 1758 (1999).
58 J. P. Perdew, K. Burke, and M. Ernzerhof, Phys. Rev. Lett. 77, 3865 (1996).
59 J. P. Perdew and A. Zunger, Phys. Rev. B 23, 5048 (1981).
60 J. P. Perdew and Y. Wang, Phys. Rev. B 45, 13244 (1992).
61 S. I. Ranganathan and M. O. Starzewski, Phys. Rev. Lett. 101, 055504 (2008).
論文の公開元へ
